ESPECIFICAÇÕES TÉCNICAS

Espectrômetros com 300W de potência e alvos secundários
Nova
Aplicação: Mineração e minerais, metalúrgica, ambiental, petroquímica, pesquisa de materiais radioativos, pesquisa acadêmica
Espectrômetros de laboratório EDXRF com alvos secundários
Os espectrômetros por fluorescência de raios-x de energia dispersiva (EDXRF) da Xenemetrix oferecem a máxima solução não destrutiva em aplicações de análise elementar.
O Silicon Drift Detector (SDD) oferece simultaneamente níveis mais baixos de ruído eletrônico e taxas de contagem mais altas, o que é traduzido em maior resolução de energia e resultados mais rápidos em comparação com o detector Si-PIN.
Oito alvos secundários no modelo Nova oferecem sensibilidade máxima para quantificação rápida e precisa, mesmo em matrizes complexas, como amostras de liga, plástico e geológicas. Os alvos são totalmente personalizáveis para alcançar limites de detecção de ppm em uma grande variedade de elementos.
Os espectrômetros de laboratório são versáteis e podem analisar líquidos, sólidos, lodos, pós, grânulos e filtros de ar, enquanto a câmara analítica pode acomodar uma amostra de diferentes formas e tamanhos.
O design integral do auto-amostrador de 10 posições permite uma intervenção humana mínima, permitindo o carregamento automático e operação desatendida.
Este espectrômetro rápido, preciso e fácil de usar está equipado com hardware robusto e software analítico poderoso para atingir baixos limites de detecção.
A resolução de aquisição multicanal fornece uma relação de pico / fundo superior para melhorar a resposta do detector.
• Análise elementar não destrutiva Na (11) a U (92) de concentrações sub-ppm a 100%.
• A potência do tubo até 300W combinada com uma tecnologia patenteada WAG ® (Wide Angle Geometry) cria um poderoso instrumento que qualquer laboratório só pode desejar.
• Fácil de operar graças ao pacote de software exclusivo da Analytix.