Inspeção de falhas de aparência do sistema de gerenciamento de CI

Introdução

A solução para inspeção de defeitos na aparência de CIs é o uso de um scanner de objetos sem contato, projetado exclusivamente pela Microtek, para capturar imagens do CI, evitando erros de julgamento causados por danos ao CI. O scanner de objetos é capaz de capturar imagens em larga escala e, portanto, pode lidar com grandes volumes de chips de uma só vez, reduzindo o tempo de inspeção de forma eficaz. Através da seleção de uma amostra ideal por um operador, aliada à tecnologia avançada em uso, a área defeituosa pode ser encontrada e marcada com precisão.

Após as imagens com defeitos serem carregadas no sistema de gerenciamento, os usuários podem encontrar o que estão procurando em toneladas de dados rapidamente usando nomes de arquivos, datas de carregamento ou informações sobre defeitos, tornando o gerenciamento mais eficaz e eficiente.

Características

• Capaz de pesquisar usando nomes de arquivos, datas de atualização ou informações de defeitos, rápido e fácil de gerenciar toneladas de dados em pouco tempo;
• A captura de imagens sem contato garante a integridade dos objetos digitalizados;
• A captura de uma imagem em grande escala melhora a eficiência do trabalho para grandes volumes de chips;
• Capaz de selecionar manualmente uma amostra dourada, marcando com precisão a área defeituosa.