Saiba Mais Sobre Inspeções Industriais MiQC-IC
- Categoria: Solução Industrial
Introdução A solução para inspeção de defeitos na aparência de CIs é o uso de um scanner de objetos sem contato, projetado exclusivamente pela Microtek, para capturar imagens de CIs, evitando erros de avaliação causados por danos ao CI. O scanner de objetos é capaz de capturar imagens em larga escala...
Descrição
Introdução
A solução para inspeção de defeitos na aparência de CIs é o uso de um scanner de objetos sem contato, projetado exclusivamente pela Microtek, para capturar imagens de CIs, evitando erros de avaliação causados por danos ao CI. O scanner de objetos é capaz de capturar imagens em larga escala e, portanto, pode lidar com grandes volumes de chips de uma só vez, reduzindo o tempo de inspeção de forma eficaz.
Utilizando em conjunto com o MiQC-IC, um sistema de inspeção e gerenciamento de defeitos, os usuários podem marcar a área defeituosa com precisão usando uma amostra de ouro. Após o upload das imagens com defeitos para o sistema de gerenciamento, os usuários podem encontrar o que procuram rapidamente em toneladas de dados, usando nomes de arquivos, datas de upload ou informações sobre defeitos, tornando o gerenciamento mais eficaz e eficiente.
Características
- A captura de imagens sem contato garante a integridade dos objetos digitalizados;
- A captura de uma imagem em grande escala melhora a eficiência do trabalho para grandes volumes de chips;
- Os sistemas MiQC-IC opcionais permitem que os usuários.
