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ELVAX BASIC

ElvaX Basic

Conheça o sistema XRF básico para seu laboratório!

Aplicações:

  • Ligas Metálicas
  • PMI (positive material identification)
  • Diretiva RoHS e WEEE
  • Mineração e Exploração
  • Arqueometria
  • Metais Preciosos
  • Análises ambientais
  • Química Geral
  • Enxofre em óleo

O ElvaX Basic é um espectrômetro por Fluorescência de Raios-X de Energia Dispersiva (EDXRF) de custo reduzido, ideal para análises qualitativas e quantitativas de sólidos, líquidos e pós na faixa de elementos de Enxofre (Z=16) a Urânio (Z=92) em uma vasta gama de concentrações.

Precisão: Com hardware avançado e software abrangente, o EvaX Basic oferece a análise mais precisa de materiais

Velocidade: O DPP desenvolvido pela Elvatech faz com que o ElvaX Basic seja o analisador que utiliza detector baseado em diodo Si-PIN mais rápido do mercado.

Estabilidade: Graças à fonte digital de Raios-X digiX-40, a correção automática de temperatura e ajuste de calibração automática, o ElvaX Basic oferece reprodutibilidade de longa duração da análise sem a necessidade de recalibrar o sistema.

Benefícios

  • Baixo custo
  • Alta velocidade e precisão
  • Compacto, ocupa pouco espaço em uma mesa de laboratório
  • Design ergonômico
  • Software analítico de alto desempenho incluso

O ElvaX Basic é uma solução econômica de alto desempenho a ser aplicada em objetos como jóias, classificação de ligas e controle de qualidade. O ElvaX Basic combina um kit de ferramentas de software analítico poderoso com uma interface fácil de usar. No laboratório ou na linha de produção, com o ElvaX Basic você pode obter o desempenho e a precisão de um espectrômetro de bancada a um custo consideravelmente menor.

Rápido e Simples: Basta conectar seu ElvaX Basic a um PC através da porta USB, ligá-lo e executar o software ElvaX (TM). Isso é tudo que você precisa para obter a composição da sua amostra!

Especificações

  • Fonte de Raios-X digital DigiX-40
  • Ânodo: W-Tungstênio
  • Voltagem: 40 kV
  • Corrente: 200 µA
  • Potência: 4 W

Detector de Raios-X

  • Tipo: Si-PIN (SDD é opcional)
  • Área: 6 mm2 (25 mm2 para detector tipo SDD)
  • Resolução de Energia: 165 eV em Mn Kα (140 eV para detector tipo SDD)

Eletrônica

DPP (Dry Phase Patterning): propriedade DAS (Dynamically Adaptive Shaping), taxa de amostragem 80 MHz

Analisador Multi Canal: 4096 canais

Geral

  • Dimensões: 430 х 340 х 200 mm
  • Peso: 13 kg
  • Alimentação: 90 – 240 VAC, 50/60 Hz
  • Consumo de Energia: 40 W

Software

Sistema Operacional: Windows XP/Vista/7/8/10

Algoritmo de Análise: Parâmetros Fundamentais (FPA), Calibração Empírica (regressão), Comparação manual de espectro.

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