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ElvaX RoHS

ELVAX S LAB

Mini laboratório para análise de alta precisão, de acordo com a diretiva RoHS

Aplicações:

  • Diretiva RoHS e WEEE

O ElvaX S Lab é projetado especialmente para análise de produtos petroquímicos para verificação de enxofre em ampla faixa de concentração de 2 ppm a 5%. Muitos padrões internacionais descrevem o método de análise de enxofre em combustível e óleo. O enxofre forma sulfatos prejudiciais nos gases de escape dos veículos e polui a atmosfera com óxidos de enxofre. Além disso, o enxofre reduz a estabilidade do combustível e afeta o desempenho do motor. O nível máximo admissível de enxofre no combustível diminui a cada ano. A diretiva 2003/17/CE (ou EURO VI) exige uma quantidade máxima de enxofre no combustível de 10 ppm. O Analisador de Enxofre em Óleo ElvaX cumpre integralmente os requisitos da ASTM D4294, ISO 8754, ISSO 20847, IP 336, ASTM D6445.

Sensibilidade: Graças a um detector SDD altamente sensível, o instrumento permite detectar elementos perigosos em concentrações dez vezes inferiores ao mínimo aceitável pela diretiva RoHS

Velocidade: a medição leva apenas alguns segundos, porque o dispositivo possui um processador de pulso digital de alta velocidade com tecnologia DAS e um filtro de conversão especialmente projetado

Funcionalidade: Câmera de vídeo, trocador de colimador de 5 posições de 1 a 10 mm, computador e impressora embutidos, possibilidade de operação com todos os recursos quando conectado a um PC

Benefícios

  • Alta velocidade e precisão
  • Interface intuitiva
  • Capacidade de trabalhar autonomamente
  • Compacto, não ocupa muito espaço na mesa
  • Design ergonômico
  • Vidro de chumbo possibilitando exposição da análise ao cliente

A análise de fluorescência de Raios-X supera os demais métodos analíticos em termos de velocidade, precisão e simplicidade. É um método não destrutivo, no qual a análise é direcionada ao ponto de interesse. O diâmetro de um ponto analítico pode ser facilmente alterado.

Especificações

  • Fonte de Raios-X digital DigiX-40 (DigiX-50 é opcional)
  • Ânodo: W
  • Tensão: 40 kV (50 kV é opcional)
  • Corrente: 200 μA
  • Potência: 4 W
  • Trocador de colimador de 5 posições de 1 a 10 mm

Detector de Raios-X

  • Tipo: Si-PIN (detector Fast SDD opcional)
  • Área: 6 mm2 para detector Si-PIN (30 mm2 para detector SDD)
  • Resolução de Energia: 165 eV para Mn em Kα para detector Si-PIN (140 eV eV para Al em Kα para detector SDD)
  • Taxa de contagem: 500.000 cps

Eletrônica

  • DPP: DAS (modelagem dinamicamente adaptável)

Geral

  • Dimensões: 280 × 385 × 200 mm
  • Câmara analítica: 185 × 212 × 90 mm
  • Peso: 7 kg
  • Fonte de alimentação: 90 - 240 V, 50/60 Hz
  • Consumo de energia: 40 W
  • Bateria: 6 horas de operação contínua
  • Impressora térmica: opcional

Software

  • Sistema operacional: Windows CE
  • Análise Quantitativa: Método dos Parâmetros Fundamentais (FPA), Calibrações Empíricas

Conectividade

  • Transferência de dados: 2 portas USB, cartão Micro SD, Ethernet
  • Entrada de dados: tela sensível ao toque, teclado, mouse
  • Tela: 5”. 800 x 480

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